CYBERTEK知用EM5030LF高頻磁場近場探頭

1.概述

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。

EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設計。

探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統內信號切換速率、RF電壓等。當干擾信號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。

CYBERTEK知用EM5030LF高頻磁場近場探頭

.概述

EM5030/EM5030LF系列探頭組包含了7個專門用來測試磁場（H）探頭，它有效地屏蔽了電場干擾（E），主要用于電磁兼容整改時定位干擾源的近場探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，共4種探頭形狀；EM5030LF的頻率范圍是9kHz-50MHz，共3種探頭形狀。

EM5030E系列探頭組包含了2個專門用來測試電場(E)的探頭，覆蓋頻率范圍為30MHz到3GHz，主要應用于查找電場干擾源，除了探頭其他部分均為屏蔽設計。

探頭通過50?的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當產品的輻射或傳導干擾超過標準時，可用近場探頭來尋找產品中哪個元件或電路產生了該頻率的干擾，能夠檢測模塊之間的耦合通道以及評估系統內信號切換速率、RF電壓等。當干擾信號比較弱時，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統測試靈敏度。

概述：

EM5030 CYBERTEK近場探頭套件主要用于電子產品的電磁場測量，實現干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統測試靈敏度！廣泛應用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強度；機箱、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況；甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產生的原因，提高產品設計水平，縮短產品開發周期。