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放射性 測(cè)量?jī)x

就弱放射性a樣品進(jìn)行高精度測(cè)量與分析，被測(cè)樣品可以是電沉積樣品，也可以直接鋪樣。放射性測(cè)量?jī)x所采用的分析儀器探頭靈敏區(qū)為?30mm金硅面壘半導(dǎo)體探測(cè)器，抗干擾屏蔽，本底低，功耗小。廣泛服務(wù)于地質(zhì)調(diào)查、放射性勘探、醫(yī)院、防疫站、環(huán)境監(jiān)測(cè)站、工廠的水質(zhì)、食品等檢驗(yàn)其樣品的總?放射性活度。弱

放射性 測(cè)量?jī)x

主要技術(shù)功能： 
. 探測(cè)器：金硅面壘?30 mm，儀器本底：≤5cph
.探測(cè)效率：≥36%（2π,239Pu源）
. 計(jì)數(shù)容量：99999999
.定時(shí)測(cè)量：定時(shí)時(shí)間在1—9999min內(nèi)可選擇設(shè)置
. 供電電源：6v蓄電池，充電一次可工作12小時(shí)