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貨物所在地：上海上海市
更新時間：2025-03-31 21:00:08
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測鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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