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產品簡介
詳細介紹
涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100
德國EPK（Elektrophysik）公司涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
MiniTest1100/2100/3100/4100功能:
型號MiniTest1100/2100/3100/4100 EPK 存儲的數據量 應用行數（根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數） 每個應用行下的組（BATCH）數（對組內數據自動統計，并可設寬容度限值） 可用各自的日期和時間標識特性的組數 數據總量 EPK統計計算功能 讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar 讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk 組統計值六種x,s,n,max,min,kvar 組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk 存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據 分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值 顯示并打印測量值、打印的日期和時間 其他功能 透過涂層進行校準（CTC） 在粗糙表面上作平均零校準 利用計算機進行基礎校準 補償一個常數（Offset） 外設的讀值傳輸存儲功能 保護并鎖定校準設置 更換電池是存儲數值 設置限值 公英制轉換 連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別 大 小值 連續測量模式中測量穩定后顯示讀數 浮點和定點方式數據傳送 組內單值延遲顯示 連續測量模式中顯示 小值
MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數（探頭圖示）
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇 適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能
分辨率
半徑（凸/凹）
區域直徑
體厚度
感
應
法
用
N50μm
N50μm
N50μm
渦
流
法
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MiniTest1100/2100/3100/4100探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（0.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高（0.1μm）
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板