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當前位置：上海富瞻環保科技有限公司>>物理特性分析儀器>>測厚>> 反射膜厚儀MProbe NIR
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 石油,電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件,電氣 |
| 應用領域 | 生物產業,電子 |
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采用近紅外光譜（NIR）的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜（CIGS, CdTe）可以快速的測量。
詳情介紹
產品概述
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應用領域，比如在可見光范圍內有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。
測量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實時在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指標：薄膜厚度，光學常數
界面友好強大: 一鍵式測量和分析。
實用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動態測量和產線批量處理。
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