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鈍化離子注入平面硅探測器（PIPS）
一、PIPS探測器簡介
PIPS 探測器是Mirion（Canberra）的專業技術，其性能超越了傳統的金硅面壘(SSB)型探測器和擴散注入(DJ)型探測器，這兩種探測器的制造方法仍與 1960 年相同。
PIPS 探測器相比 SSB 和 DJ 探測器具有許多優勢：
1、所有結邊緣都被隱藏在內部，不需要使用環氧樹脂密封劑來保護；
2、通過離子注入形成精確、薄、突變的結，確保了對α粒子具有良好的分辨率；
3、入射窗堅固耐用，易于清潔；
4、漏電流通常只有 SSB 和 DJ 探測器的1/8到1/100；
5、死層（窗口）厚度比SSB和DJ探測器更薄；
6、A450-18 AM（450mm2）標準探測器可加熱至100℃—特殊型號可更高。
PIPS 探測器正面接觸面（入射窗口）是通過離子注入技術實現的，Mirion（Canberra）具有技術，可最大限度地做薄窗口厚度并精確控制氧化物的鈍化過程，可生產具有極薄入射窗口（<50 nm）的探測器，同時保持接觸面的堅固性、可靠性和穩定性。
PIPS 探測器的薄窗口不僅提升了常規測量下的分辨率，而且在探測器與輻射源距離很近時其性能提升更為顯著。
二、PIPS探測器特點
1、技術PIPS 探測器，入射窗薄≤50nm，高度穩定性，極低漏電流、噪音及本底，表面可碰觸、清洗；
2、自帶反沖抑制功能，有效地避免探測器污染（Canberra技術）；
3、探測器有效厚度： 140μm，對于能量最高可達15MeV的alpha粒子，足以吸收，大大優于市面上有效厚度僅為100μm的探測器；
4、具有高分辨率；
5、能夠耐受高達100°C的溫度；
6、可重峰剝譜擬合分析；
7、提供一個清潔的排氣口，可接入干燥清潔氣體排除濕氣及污染物。
三、技術指標
| 活性區域面積mm2 | Alpha分辨率keV | 典型本底(counts/day) | 型號 |
| 300 | 17 | 4 | A300-17AM |
| 450 | 18 | 6 | A450-18AM |
| 600 | 22 | 8 | A600-22AM |
| 900 | 25 | 12 | A900-25AM |
| 1200 | 32 | 16 | A1200-32AM |
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