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TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統
產品簡介
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統TASLimage是基于核徑跡分析技術發展的高性能全自動圖像測量及分析系統，用于測量及分析各類塑料徑跡探測器，例如TASTRAK(TASL公司生產)、CR39、PN3。系統的顯微鏡模塊采用了高質量Nikon光學器件和超快3D機動控制系統，保證了系統的高測量效率、高精度及低本底等優異性能。系統適用于中子測量、氡濃度監測、聚變研究、α粒子放射自顯影、鈾礦勘探、宇宙射線以及放射領域教學。
TASLimage固體徑跡蝕刻測量系統特點：
1. 全自動聚焦，全自動掃描點碼和蝕刻徑跡;
2. 全自動測讀批量探測器;
3. 快速測讀，測讀時間為30~60秒(與參數設置相關);
4. 自動修正探測器響應衰退，保證探測器可用于12個月的長期監測;
5. 高度精密的圖像分析技術，可區分徑跡與本底特征;
6. 全自動本底評估(對每個探測器);
7. 掃描數據自動轉換為中子劑量/氡濃度;
8. 數據可導出excel文件。
?技術指標：
TASLimage軟件界面
TASTRAK核徑跡探測器
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