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2024
06-192024
06-172024
06-122024
06-112024
06-07設備更新|粉末原子層沉積(PALD):科研平臺建設“新質生產力”
設備更新|粉末原子層沉積(PALD):科研平臺建設“新質生產力”隨著對科技創新的不斷重視和投入,新一輪的大規模設備以舊換政策為廣大高校和研究機構帶來了的發展機遇。高質量的科研平臺建設是提升研究水平、增...2024
06-06掃描電鏡拍攝技巧(一)|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現象
掃描電鏡拍攝技巧|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現象在使用掃描電鏡進行樣品觀察時,尤其是采用二次電子模式,隨著觀察時間的延長,在觀察的區域會出現一塊黑的矩形的區域。如下圖所示,對一塊空白的鋁制樣品臺...2024
06-05設備更新|掃描電鏡 SEM & 透射電鏡 TEM 離子束制樣設備
設備更新|掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設備2024年3月1日,《推動大規模設備更新和消費品以舊換新行動方案》審議通過。會議指出,推動新一輪大規模設備更新和消費品以舊換新,是著眼于我國高質量...2024
06-032024
05-31原子層沉積(ALD)技術鋰電材料:電極粉末包覆的必要性(下)
在上篇文章中,我們介紹了原子層沉積(ALD)方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層(PC)和極片涂層(DC)兩種不同的改性策略。(詳見:原子層沉積(ALD)技術在鋰電材料中的應用(一):電極粉末包覆的必...2024
05-29使用低能離子精修制備高質量的鋰離子導體固態電解質透射電鏡樣品
引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella),是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而,鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅散的迷霧,阻礙著人們獲得更高質量的TEM照片,進而也限制了對輕元...2024
05-282024
05-282024
05-272024
05-242024
05-23為什么使用原子層沉積(ALD)方法對電極材料進行包覆是必要的?
為什么使用原子層沉積(ALD)方法對電極材料進行包覆是必要的?鋰電池電極由各種類型的粉末制備合成,對粉末材料表面進行包覆已經成為提高電池性能的有效策略。尤其在固態電池中,固體電解質顆粒(SSA)和電極...2024
05-222024
05-212024
05-20顯微CT無損檢測技術,在增材制造和粉末冶金領域發揮什么作用?
隨著科技的飛速發展,顯微CT技術在各個領域的應用愈發廣泛,尤其是在增材制造和粉末冶金領域。顯微CT技術以其高分辨率、非破壞性的特點,為微觀層面的材料結構和缺陷分析等提供了解決方案,為增材制造和粉末冶金...2024
05-17掃描電鏡論文賞析-干旱影響楊樹葉片及次生木質部發育的分子機制
掃描電鏡論文賞析論文標題:ThetranscriptionfactorPtoMYB142enhancesdroughttoleranceinPopulustomentosabyregulatinggi...2024
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