目錄:鄭州君達儀器儀表有限公司>>物理檢測儀器>>超聲波測厚儀>> T-102-2000超聲波測厚儀探頭
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 1千-5千 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 生物產業,地礦,能源,電子/電池,汽車及零部件 |
美國達考特超聲波測厚儀探頭T-102-2000：美國達考特MX-5超聲波測厚儀標準探頭測量范圍1.0～152mm，有多種探頭可以選擇,Z大可達508mm.顯示精度：0.01mm，帶報警功能、RS232接口以及差值方式。
型號：T-102-2000
頻率：50MHZ
美國達考特超聲波測厚儀探頭T-102-2000探頭晶片直徑:6035mm
探頭防磨面直徑：9.53mm 測量范圍：1.0-152mm
超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
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