QQ交談DUALSCOPE MP0/MPO德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀
- 公司名稱：
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- 上海君翼儀器設備有限公司
- 2017-09-27 13:45:23
- 上海市
- 德國Fischer費希爾
- 2329
【簡單介紹】
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 1千-5千 |
|---|
德國fischer公司生產DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-MPOD）和渦流測厚儀（I-MPOD）兩種儀器的功能，可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。
【詳細說明】
德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀簡介:
德國fischer公司生產DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-MPOD）和渦流測厚儀（I-MPOD）兩種儀器的功能，可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如：
1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。
2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。
3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。
4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。
5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。
德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀特點:
*符合國家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于生產檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。
*采用雙功能內置式探頭，無需更換探頭，可自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式進行精確測量。
*符合人體工程學設計的雙顯示屏結構，可以在任何測量位置讀取測量數據。
*采用手機菜單方式快速選擇功能。
*儀器可設定上下限，測量結果超出或符合上下限數值時，儀器會發出相應的聲音或閃爍燈提示。
德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀技術參數：
可測量的涂鍍層系統 | NF,Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導電涂層的厚度(磁感應方法) 和 Iso/NF 非磁性金屬基材上非導電涂層的厚度 |
測量范圍 | NF,Iso/Fe 0- 2000 µm (0 - 78 mils) Iso/NF 0- 2000 µm (0 - 78 mils) |
測量誤差 | For applicationsNF,Iso/Fe 0 ... 75 µm (0 -3mils) ±1.5 µm 75 ... 1000 µm (3 -39mils) ±2% 1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3% ForapplicationsIso/NF 0 ... 50 µm (0 -2mils) ±1µm 50 ... 1000 µm (2 -39mils) ±2% 1000 ... 2000 µm (39-78mils) ±3% |
重復精度 | ForapplicationsNF,Iso/Fe 0 ... 50 µm (0 - 2mils) ±0.25 µm 50 … 2000 µm (2-78 mils) ±0.5 % ForapplicationsIso/NF 0 ... 100 µm (0 - 4mils) ±0.5µm 100 … 2000 µm (4-78mils) ±0.5% |
重量 | 85 g (2.73oz)(不含電池);135 g (4.34 oz) (含電池) |
尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30mmx 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
電源 | 2 x battery LR6.AA1.5V |
功耗 | Max.0.2Watt |
環境溫度 | 操作溫度5°- 40°C (41°-104°F) ; 儲存溫度: 5°-60°C (41°–140°F) |
相對濕度 | 30 ... 90%(無凝水) |
測量數據內存 | zui多999個測量讀數 |
zui小測量間隔 | 2 秒 |
注：本公司保留對上述參數的zui終解釋權，因技術改進而引起的變化恕不另行通知。
德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀標配：
兩節5號電池、主機一臺；
鐵、鋁基體各一塊；
標準片一片；
手提儀器盒；
操作手冊。
德國Fischer費希爾DUALSCOPE MP0/MPO涂層測厚儀測量涂鍍層厚度方法步驟:
1. 儀器開啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。
2. 把儀器提離工件。測量聲響后顯示讀數。說明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯誤信息 “Er6”會出現。重復步驟1。
3. 當儀器已在開啟狀態時，讀數會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。
DUALSCOPE MPO涂層測厚儀校準
4.校準需要有下面幾項：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。說明：校準將刪除內存中的所有讀數。
5.按[CAL]鍵。
顯示"Base" (即 “未鍍過的底材”)
在底材上測量五次左右.
每次測量后，會顯示當前的讀數。
6.按[OK]鍵.
顯示 0.00 和STD1 (即校準標準片 # 1).
把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
每次測量后，屏幕上會顯示當前讀數。
7.用﹤或﹥鍵調整第4步的zui后一個數值至標準片的標稱值，如“75 µm”。標準片的標稱值注明在標準片上。
8.按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態.
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