目錄:瑞典百歐林科技有限公司>>QSense 石英晶體微天平>>聯用模塊>> QCM-D礦物浮選模塊
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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QSense 礦物浮選模塊旨在以納克級精度實時分析液相中分子在芯片表面的吸附和相互作用。通過將模塊倒置（即芯片有效傳感器區域）于樣品池中，可有效降低液體中的顆粒沉降影響。應用因其設計，使其在礦物浮選中具有廣泛的應用：礦物表面特性研究：其可用于測量礦物表面的吸附特性、電荷狀態以及氧化還原性質，有助于了解礦物與浮選藥劑之間的相互作用。浮選藥劑篩選：通過在石英晶體微天平上固定礦物顆粒，并注入不同的浮選藥劑，可以實時監測藥劑與礦物表面的相互作用及吸附行為，從而評估不同藥劑的浮選效果。浮選過程優化：利用石英晶體微天平監測浮選過程中礦物與藥劑之間的相互作用，可以優化浮選條件，例如調整藥劑濃度、藥劑添加順序和pH值，以提高礦物的浮選選擇性和回收率。礦物腐蝕研究：石英晶體微天平可用于評估浮選過程中礦物的腐蝕性，通過監測腐蝕產物的生成速率和質量變化，可以研究不同條件下礦物的耐蝕性，并優化腐蝕抑制措施。總的來說，這一設計在礦物浮選中的應用主要集中在研究礦物表面特性、評估浮選藥劑效果、優化浮選過程以及研究礦物腐蝕性，有助于提高浮選工藝的效率和選擇性。
芯片 兼容QSense所有14mm芯片測量方式 倒置、靜止測試與溶液接觸材料 特氟龍（Teflon），鈦（Ti）清洗 所有可拆解部分均可獨立清洗尺寸 高：10.6cm（包含通訊線）；寬：3.4cm；深：5.2cm
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