激光器芯片測試系統是一種用于電子與通信技術領域的科學儀器，半導體激光器芯片各種光學和電學性能，壽命、熱特性和可靠性的測試系統。
聯訊儀器CT8201激光器芯片測試系統是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠場參數測試需求開發的。
聯訊儀器CT8201激光器芯片測試系統是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠場參數測試需求開發的。系統集成了①DUT ID掃描→②從晶圓環上料→③運輸→④高/低溫測試→⑤下料→⑥分揀歸類。
聯訊儀器CT8201支持前向/后向光測試。支持多溫區測試：3個測試座以支持高溫/低溫/常溫并行測試。
聯訊儀器CT8201測試效率非常快，可以在8s內完成上述6個流程。非常適合大批量量產應用。系統采用偏心凸輪結構、高重復性步進電機計、高精密夾具以及連接桿結構，使其具有超高的精度和穩定性。
芯片ID識別成功率：99%
ESD保護：所有和DUT相關的材料都是ESD防護的，良好接地
分類功能：支持4-6 晶圓盤，軟件配置分類計劃
激光器驅動類型：每個芯片獨立驅動
時間探測：功率丟失、網絡丟失、短路、開路和過溫
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