同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
同惠TH513半導體C-V特性分析儀參數測試儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二...
TH512 半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
TH512 半導體C-V特性分析儀參數測試儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器。儀器采用了一體化集成設計，二極...
TH511半導體C-V特性分析儀參數測試儀 參考價：面議
TH511半導體C-V特性分析儀參數測試儀簡介：TH510系列半導體C-V特性分析儀是常州同惠電子根據當前半導體功率器件發展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的...
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀 參考價：面議
HIOKI日置 3506-10電容電阻測試儀測量儀：對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，...
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器 參考價：面議
日置C測試儀3504-60電容檢測測量儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 靜電容量...
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器 參考價：面議
HIOKI C測試儀3504-50元器件電容檢測儀器：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容...
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40 參考價：面議
HIOKI日置C測試儀電容測試設備 3504-40：封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等C、D 2項目測試 能以恒定電壓測量大容量的多層陶瓷電容 ...
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5010-10000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-1000保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀 參考價：面議
費思FTI5000系列FTI5015-200保險絲測試儀是專為保險絲、熔斷器等產品設計的專業測試設備，嚴格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀 參考價：面議
致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產品特色：●測試參數:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系...
MOS管動態參數測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態參數測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態參數測試設備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，...
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