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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
絕緣子表面污穢之灰密度測(cè)量
絕緣子表面污穢之灰密度測(cè)量
1、 灰密度的定義:絕緣子表面污穢物中非可溶性物質(zhì)的總質(zhì)量除以表面積。單位mg/cm2。
2、 灰密度的測(cè)量步驟:(以HM-3000灰密測(cè)試儀為例)
(a) 溶解。將絕緣子表面污穢物溶解在一定體積的蒸餾水中。蒸餾水的體積大約為絕緣子的表面積值(單位cm2)*0.2ml。舉例:絕緣子表面為1450 cm2,則蒸餾水體積應(yīng)為290ml左右。當(dāng)污穢物中含鹽量較大時(shí),可酌情增加水量。
(b) 過(guò)濾。過(guò)濾有兩種方法,一種為常規(guī)過(guò)濾,另一種使用真空抽濾機(jī)裝置過(guò)濾。常規(guī)過(guò)濾實(shí)驗(yàn)條件簡(jiǎn)單,操作簡(jiǎn)便,但是過(guò)濾速度慢。使用真空抽濾裝置過(guò)濾的優(yōu)點(diǎn)是過(guò)濾速度快,但實(shí)驗(yàn)器材的價(jià)格較高。
(c) 干燥。將過(guò)濾后的濾紙對(duì)折疊成90度后放入恒溫干燥箱進(jìn)行干燥。在干燥溫度設(shè)定為90℃時(shí),干燥30分鐘即可。具體以干燥為宜。
(d) 稱重。過(guò)濾前稱重濾紙的重量,計(jì)為Mf;將干燥后的濾紙帶灰一同稱重,計(jì)為Ms。
(e) 計(jì)算。絕緣子表面附灰密度NSDD = (Ms-Mf)/S。單位mg/cm2。
3、 測(cè)量過(guò)程中注意事項(xiàng)
(a) 建議使用的紗巾擦拭絕緣子污穢,也可以使用試紙?zhí)娲;疽笫遣潦檬褂玫募喗怼V紙等不含有可溶性物質(zhì)。否則會(huì)造成測(cè)量結(jié)果偏小。
(b) 使用天平時(shí)首先應(yīng)將天平底座調(diào)整到水平位置。天平的校驗(yàn)砝碼和托盤都不要直接用手接觸。
(c) 干燥時(shí)的溫度不能設(shè)置的過(guò)高,一般不超過(guò)110℃,否則可能引起濾紙燃燒。