韓國XRF-2000測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片校正片

X-RAY膜厚儀校正片

適合各種X光鍍層測厚儀

測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片，專業(yè)用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。

也就是我們?cè)谀ず駵y試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法，是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系

來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。 

韓國MicroPXRF-2020鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板，LED支架等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量，不限底料