銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀

韓國XRF-2000銅上鍍銀測厚儀

1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。

2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。

3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。

韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀

韓國XRF-2000X光鍍層測厚儀,測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等

 可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。

XRF-2000鍍層測厚儀共三款型號

不同型號功能一樣

機箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測厚儀型號介紹

XRF-2000鍍層測厚儀H型:測量樣品高度不超過10cm

XRF-2000電鍍測厚儀L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測量樣品高度不超3cm(開放式設(shè)計,可檢測大型樣品

儀器功能

全自動臺面

自動雷射對焦

多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品）

測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選

鍍層厚度測試范圍：0.03－35um

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開顯示各自厚度.

測量時間：10－30秒

韓國XRF2000X光鍍層測厚儀精度控制：

*層：±5%以內(nèi)

 第二層：±8%以內(nèi)

 第三層：±15%以內(nèi)

銅上鍍錫X射線無損鍍層測厚儀