XRF-2000膜厚儀
原產地：韓國
功能及應用：測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等。
XRF-2000膜厚儀精度
表層：±5%以內
第二層：±8%以內
第三層：±15%以內
XRF-2000膜厚儀測試范圍
Au 0.03-4um
Ag 0.03-25um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi:0.05-20um
SnCu:0.05-20um
Micro Pioneer
XRF-2000膜厚儀配置
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準確快捷檢測樣品）
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 四種規格可選
測量樣品長寬均為55cm
可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
Micro Pioneer XRF-2000膜厚儀
測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等
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