XRF-2000X射線測厚儀
韓國Micro Pioneer XRF-2000型測厚儀
應用于快速準確無損檢測各種金屬鍍層厚度：
測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍錫,鍍鈀等
XRF-2020型鍍層測厚儀：可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。
如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等
雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材
多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材
合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材
XRF-2000X射線測厚儀
檢測電鍍層測厚度，可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層。
檢測范圍0.05-35um
Micro Pioneer XRF-2000鍍層測厚儀*，配置全自動臺面，自動雷射對焦。
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