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X光測厚儀XRF-2020微先鋒X-RAY膜厚儀
通過CCD鏡頭
觀察快速無損測試電鍍層膜厚
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層
X射線熒光法無損鍍層測厚儀
該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品破壞的情況下提供易于操作
快速和無損的分析。
XRF-2020兩款型號并且具有不同大小的樣品艙。
產品功能：
采用X射線熒光測量金屬鍍層、覆蓋層厚度
鍍層元素測量范圍：鈦～鈾
包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鋅鎳合金等。
測量鍍層層數：多至5層。
XRF-2020標配：0.2mm準直器 測量樣品位置直徑大于0.4mm
測量時間：通常15秒。
XRF-2020H型 樣品尺寸：550 x 550 x 100 mm (長x寬x高)。
XRF-2020L型 樣品尺寸：550 x 550 x 30 mm (長x寬x高)。
測量誤差：正負5%
可測厚度范圍：通常0.03微米到35微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
能同時定量測量5種鍍層厚度。
探測器 高分辨氣體正比計數探測器全自動X-Y-Z樣品臺
XRF-2020鍍層測厚儀測試報告
測試報告內容：
測試產品的編號；
測試產品的準確標識；
測量日期
測試樣品測量位置
報告的測量次數
測量產品大小值
平均值
標明準直器孔徑和測量面積大小；
用于XRF-2020測厚儀的密度值及使用理由；
報告的測量值具有代表性的標準偏差；
與本標準方法的差別:
儀器全自動臺面
自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
可廣泛使用于電鍍生產企業及成品來料檢測
方便更有效控制產品電鍍層厚度及品質。
X光測厚儀XRF-2020微先鋒X-RAY膜厚儀測量原理：
物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。
從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來
而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度鍍層厚度測量
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