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膜厚測量儀
韓國XRF-2000L測厚儀
XRF-2000系列
型號均已升級為XRF-2020系列
功能及應用:快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！
測量范圍0.02-35um
儀器規格
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高12cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
MicroP XRF-2020韓國測厚儀
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
膜厚測量儀韓國XRF-2000L測厚儀
XRF-2000系列型號
均已升級為XRF-2020系列
功能及應用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測:
單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
測量:
鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！
測量范圍0.02-35um
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