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X射線鍍層測厚儀膜厚儀測量范圍:0.02-35um
原產地：韓國
型號：XRF-2020系列
功能及應用:
快速無損測量電鍍層厚度
可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層
測量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！
測量范圍0.02-35um
鍍層測厚儀功能XRF-2020膜厚測量儀
XRF-2020L型:測量樣品長寬55cm,高3cm:臺面載重3kg
XRF-2020H型:測量樣品長寬55cm,高10cm:臺載重5kg
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
適應電子電鍍表面處理,五金,端子連接器,半導體,PCB板
汽車零配件磁性材料等行業
快速無損測量
韓國測厚儀X-RAY膜厚儀
鍍金，鍍銀，鍍錫，鍍銀，鍍鎳，鍍銅，鍍鋅鎳合金等！
XRF-2020H型號
儀器尺寸：610×670×600mm；
樣品臺尺寸：300×240mm；
樣品臺移動范圍：前后150mm 左右200mm、高度100mm
X射線鍍層測厚儀膜厚儀測量范圍:0.02-35um
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