X射線熒光分析測厚儀能提供：

X-RAY膜厚鍍層厚度測試儀功能,

XRF-2020微先鋒韓國電鍍膜厚儀性能

分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果

多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用

準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業的首要選擇。

XRF-2020系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、

電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。

micropioneer XRF-2020系列X射線熒光分析測厚儀特點：

XRF-2020或XRF-2000X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術

該技術已經被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作

快速和無損的分析。它能分析固體和液體，

元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92

并且具有不同大小的樣品艙。

產品功能：

1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（

 等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

2. 鍍層層數：多至5層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。

4. 測量時間：通常35秒-180秒。

5. 樣品尺寸：200 x 150 x 100 mm (長x寬x高)。

6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。

產品參數：

· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm可選

· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據軟件控制優化

· 探測器 高分辨氣體正比計數探測器

· 準直器 單一固定準直器直徑0.2mm

韓國MicropioneerX射線鍍層測厚儀微先鋒X-RAY膜厚儀原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。

從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來

而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。

熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度

來進行定性和定量分析

快速無損測量電鍍層膜厚，應用電鍍廠，五金端子連接器，框架等各類電鍍產品來料檢測等