4200/4500尼克斯測厚儀簡介：
QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。
4200/4500尼克斯測厚儀溫度補償：
涂覆層厚度的測量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測量會得出很大的誤差。所以好的測厚儀應該具備理想的溫度補償技術，以保證不同溫度下的測量精度。
4200/4500尼克斯測厚儀紅寶石探頭：
探頭接觸點的耐磨性直接影響測量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會帶來很大的誤差。
4200/4500尼克斯測厚儀采樣技術：
使得測量重復性較傳統交流技術有*的*和提高。
4200/4500尼克斯測厚儀用途：
測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等。
零位穩定：
所有涂層測厚儀測量前都要求校準零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩定是保證測量準確的前提。一臺好的測厚儀校零后，可以長時間保持零位不漂移，確保準確測量。
無需校準：
多數測厚儀除了校零外，還需要用標準片進行調校。測量某一范圍厚度，要用某一范圍的標準片調校。主要是不能滿足全范圍內的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會因標準片表面粗糙失效，增大系統誤差。
技術參數：
技術參數 |
磁性基體(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基體(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
測量范圍 | Fe:0-3000um/NFe:0-2000um |
顯示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um 50-1000um:≤±1.5%讀數 1000-3000um≤±3%讀數 |
小接觸面 | 10×10mm |
小曲率半徑 | 凸面：3mm 凹面：25mm |
小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
溫度補償范圍 | 0-60℃ |
顯示 | LCD液晶(帶背光) |
探頭 | 紅寶石固定式 |
電源 | 2×1.5V干電池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g
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優點：
◆只需調零，無需校準
◆體積小巧，操作方便
◆一機雙用，自動識別基體
◆精度高
TT210涂層測厚儀基本配置：
★主機：1
★標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） 1
★鐵基體和鋁基體 1
★AAA型（7號）1.5V電池 2
★儀器保護套 。
簡介：
是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業*的儀器。
參數：
★測頭類型： F/ N。
★測量原理： 磁感應/電渦流。
★測量范圍： 0-1250um/0-40um（銅上鍍鉻）。
★探頭連接方式： 一體化。
★示值誤差： 一點校準（um） ±[3%H+1]/ ±[3%H+1.5]。
★兩點校準（um） ：±[（1～3）%H+1]/ ±[（1%~3%）H+1.5]。
★測量條件 ：zui小曲率半徑（mm） 凸1.5 凹9/凸3 凹10。
★基體zui小面積的直徑（mm）： ф7/ф5。
★zui小臨界厚度（mm） ：0.5/0.3。
★濕度：0~40℃。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
★測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）。
★上下限設置 ：有。
★存儲能力 ：500 個測量值。
★打印/連接計算機： 可選配打印機/不能連接電腦。
★關機方式 ：手動和自動。
★電源 ：二節AAA型（7號）1.5V電池。
★外形尺寸： 110×50×23mm。
★重量：100g。
TT220覆層測厚儀簡介：
是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量。可廣泛用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現場測量。 本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。
功能特點：
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）。
技術參數：
★測頭類型：F。
★測量原理：磁感應。
★測量范圍：0-1250um。
★低限分辨力：1?m（10um以下為0.1um）。
★探頭連接方式：一體化。
★示值誤差：一點校準（um）±[3%H+1]。
★兩點校準（um）： ±[（1～3）%H+1]。
★測量條件：zui小曲率半徑（mm） 凸 1.5 凹9。
★基體zui小面積的直徑（mm）：ф7。
★zui小臨界厚度（mm）：0.5。
★溫濕度：0~40℃，20%RH～90%RH。
★統計功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數（NO．）、
標準偏差（S．DEV）。
★工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）。
★測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）上下限設置。
★存儲能力：15 個測量值。
★打印/連接計算機：可選配打印機/不能連接電腦。
★關機方式：自動。
★電源：二節3.6V鎳鎘電池。
★外形尺寸：150×55.5×23mm。
★重量：150g。
★基本配置：主機。
★標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。
★鐵基體。
★充電器。
★可選附件。
★TA230打印機。
