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產品簡介

高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質結構

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產品介紹：

SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀

高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質結構

技術參數：

■ 粒子直徑測定
? ● 超寬動態光散射測量范圍:　0.3nm～8000nm
? ● 通過采用與NEDO國家項目共同開發的相關器，實現高性能化。
? ● 在單一納米粒子光學系統中，采用更低雜散光90°檢測光學系統。
? ● 雙光路系統（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量，可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束、聚合物等低濃度樣品的測定。
■ Zeta電位測定
? ● 通過安裝HORIBA自主研發的標準微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品。

■ 主要特點：
     ● 超小體積設計
     ● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量。
     ● 樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態下取樣和測定。
     ● HORIBA自主研發的微量電泳樣品池，可以測定僅100μL的Zeta電位。
     ● 廣泛應用于膠質粒子、機能性納米粒子、高分子、膠束、核糖體、納米囊等的測定。
     ● 操作簡單，進樣、設定參數后，只要按開始按鈕即可得到測量結果。

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