bruker原子力顯微鏡，即afm（Atomic Force Microscope）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。
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