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Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
D8 ADVANCE 規格：
功能 | 規格 | 優勢 |
TRIO 光路和TWIN光路 | 軟件按鈕切換： 馬達驅動發散狹縫（BB幾何） 高強度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 | 可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換，無需人工干預 是所有類型的樣品分析的理想之選，包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延） |
動態光束優化 | 動態同步： 馬達驅動發散狹縫 馬達驅動防散射屏 可變探測器窗口 2?角度范圍：小于1度至>大于150度 | 數據幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響 大大提高了檢測下限，可定量分析少量晶相和非晶相 在較小的2θ角度，可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究 |
LYNXEYE XE-T | 能量分辨率：<380 eV @ 8 KeV 檢測模式：0D、1D、2D 波長：Cr、Co、Cu、Mo和Ag | 無需K?濾波片和二級單色器 銅輻射即可100％過濾鐵熒光 速度比傳統探測器系統快450倍 BRAGG 2D模式：使用發散的初級線束收集2D數據 探測器保證：交貨時無壞道 |
EIGER2 R | Dectris 公司開發的基于混合光子計數技術的新一代探測器，支持多種模式（0D / 1D / 2D） | 在步進掃描、連續掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測 符合人體工程學的免對準探測器旋轉功能，可優化γ或2?角度范圍 使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學系統 連續可變的探測器位置，以平衡角度范圍和分辨率 |
旋轉光管 | 在線焦斑和點焦斑應用之間輕松快捷地進行免對準切換 | 無需斷開電纜或水管，無需拆卸管道 DAVINCI設計：全自動檢測和配置聚焦方向 |
自動進樣器 | FLIPSTICK：9個樣品 AUTOCHANGER：90個樣品 | 在反射和透射幾何中運行 |
D8 測角儀 | 帶獨立步進電機和光學編碼器的雙圓測角儀 | 布魯克準直保證，確保了準確性和精確度 免維護的驅動機構/齒輪裝置，終身潤滑 |
非環境條件 | 溫度：從~85K到~2500K 壓力：10-?mbar至100 bar 濕度：5％至95％ | 在環境和非環境條件下進行研究 DIFFRAC設計助您輕松更換樣品臺 |
基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選，如：
典型的X射線粉末衍射（XRD）
對分布函數（PDF）分析
小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）
由于具有出色的適應能力，僅使用D8 ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
無論是新手用戶還是專家用戶，都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設計實現的：配置儀器時，免工具、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
應用范圍：
相鑒定：材料可靠性鑒別(PMI)最為常見，這是因為其對原子結構十分靈敏，而這無法通過元素分析技術實現。
定量相分析：方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法
非環境 XRD：可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果
織構分析：在DIFFRAC.TEXTURE軟件中，使用球諧函數和組分分析方法，生成極圖、取向分布函數(0DF)和體積定量分析。
殘余應力分析：在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應力:通過sin2psi方法，使用Cr輻射測量得到。
X射線反射法(XRR)：在DIFFRAC.LEPTOS中，對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。
小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒度分析。
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