目錄:北京中顯恒業儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位MEMS低溫電學測量系統
| 價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 鎢燈絲或六硼化鑭 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
產品描述
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學樣品桿，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
透射電子顯微鏡指標：
△ 兼容型號電鏡及極靴；
△ 單傾可選高傾角版本；
△ 可選雙傾版本，β角傾轉±25°（同時受限于極靴）；
△ 測量電極數可選。
電學測量指標：
△ 包含一個電流電壓測試單元；
△ 電壓輸出最大±200 V，最小±100 nV；
△ 電流測量最大±1.5 A，最小100 fA；
△ 恒壓或者恒流模式；
△ 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。
低溫指標：
△ 兼容MEMS加熱及電學芯片；
△ 全溫區測量，溫度范圍：85 K- 380 K；
△ 控溫穩定性：優于±0.1 K；
△ 溫度連續可控
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