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上海明策電子科技有限公司

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碳化SiC晶體生長過程的德國IMPAC紅外測溫儀應用

閱讀:593      發布時間:2024-10-16
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 在高溫區(2000℃)將碳化硅SiC粉末升華,將碳化硅SiC氣體沿著溫度梯度輸送,在較冷的尾部碳化硅SiC籽品凝聚為晶體。

 

目前國際主流大規模應用的晶體生長方法,具有技術方案成熟、生長過程簡單、設備成本低等特點。技術難點主要為大尺寸襯底制備、缺陷水平控制及良率提升。

 

加熱模式

SiC PVT長晶爐有電感加熱和電阻加熱加熱兩種加熱模式。

 

測溫方式

 

溫度一般需要控制2400℃上下,由于生產過程不可見,為保證晶體生長品質需要精確調控生長溫度,有上測溫、下測溫、或上下測溫等多種形式,高溫計通過石英窗口、保溫層通孔測試坩堝底部或頂部的溫度。

 

SiC長晶工藝溫度監測方案

 

由于設備結構限制,推薦使用帶有視頻瞄準的高溫計;可以選用以下型號:

 

推薦一:

IMPAC  ISR 6     1000~3000  ,雙色,高溫,小光斑

 image.png

 


推薦二:

IMPAC  IGAR 6  Smart  ,100~2550℃ ,雙色,寬量程,低高溫兼顧

 image.png


推薦三:

 

IMPAC  IGA 6   ,250~2550℃   ,單色,寬量程,低高溫兼顧

image.png

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