X-RST-DE系列 參考價(jià)：面議
X-RST-DE系列，電動(dòng)旋轉(zhuǎn)滑臺(tái)，集成控制器和直接讀取編碼器，360度旋轉(zhuǎn)，直徑120mm， 高分辨率，扭矩大。
X-RST-E系列 參考價(jià)：面議
X-RST-E系列，電動(dòng)旋轉(zhuǎn)臺(tái)，集成控制器和電動(dòng)編碼器，360度選裝，直徑120mm, 扭矩大。
X-RSB-E 系列 參考價(jià)：面議
X-RSB-E 系列，電動(dòng)旋轉(zhuǎn)滑臺(tái)，集成控制器和電動(dòng)編碼器，360度旋轉(zhuǎn)，直接60-120mm, 高速，電機(jī)道。
X-LDQ-AE 系列 參考價(jià)：面議
X-LDQ-AE 系列，線性電動(dòng)位移臺(tái)，集成控制器。速度可達(dá)1.5m/s, 加速度為2g。
X-LDM-AE 系列 參考價(jià)：面議
X-LDM-AE 系列，線性電動(dòng)位移臺(tái)，集成控制器。高重復(fù)性（80nm）和精度 (1 µm),最小移動(dòng)量 25nm。
X-VSR 系列 參考價(jià)：面議
X-VSR 系列，電動(dòng)升降位移臺(tái)，集成控制器，手動(dòng)控制。行程20mm 或40mm ，速度高達(dá)48mm/s,推力可達(dá) 200N。
VSR 系列 參考價(jià)：面議
VSR 系列，電動(dòng)升降位移臺(tái)，高分辨率。設(shè)計(jì)用于X-MCB1系列步進(jìn)電機(jī)控制器或任何兩相步進(jìn)電機(jī)控制器 。
納米定位平臺(tái) 參考價(jià)：面議
納米定位平臺(tái)設(shè)備和電容式傳感器是性能很高的產(chǎn)品。亞納米級分辨率與高速度的結(jié)合使其成為嚴(yán)苛應(yīng)用的理想選擇。
超精密六自由度精密系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
超精密六自由度精密系統(tǒng)，SYMETRIE 強(qiáng)大的研發(fā)能力造就了高性能的六自由度定位系統(tǒng)和六自由度運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)。
步進(jìn)電機(jī)a-lar200apc-e01_w400_front 參考價(jià)：面議
步進(jìn)電機(jī)a-lar200apc-e01_w400_front特點(diǎn)：編碼器位置反饋；內(nèi)置控制器；易于與 A-series 和 T-series 產(chǎn)品銜接；可根據(jù)用...
步進(jìn)電機(jī)group_x-lrq-dec_p 參考價(jià)：面議
步進(jìn)電機(jī)group_x-lrq-dec_p特點(diǎn)：內(nèi)置控制器，易于與其他Zaber 產(chǎn)品銜接;內(nèi)聯(lián)和并聯(lián)雙驅(qū)動(dòng)，滾珠絲杠和絲杠的配置;可根據(jù)用戶實(shí)際需求定制。
步進(jìn)電機(jī)group_a-lar 參考價(jià)：面議
步進(jìn)電機(jī)group_a-lar特點(diǎn)：編碼器位置反饋；內(nèi)置控制器；易于與 A-series 和 T-series 產(chǎn)品銜接；可根據(jù)用戶實(shí)際需求定制。
步進(jìn)電機(jī)group_x-lrq-dec 參考價(jià)：面議
步進(jìn)電機(jī)group_x-lrq-dec內(nèi)置控制器，易于與其他Zaber 產(chǎn)品銜接；內(nèi)聯(lián)和并聯(lián)雙驅(qū)動(dòng)，滾珠絲杠和絲杠的配置：可根據(jù)用戶實(shí)際需求定制。
小型傅里葉紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
小型傅里葉紅外光譜儀（中紅外光譜儀），是一種穩(wěn)固、便攜和高靈敏、高分辨率（≤4cm-1）傅里葉變換光譜儀。
光源輻射度測量儀 參考價(jià)：面議
光源輻射度測量儀是專門用于測量光源，比如太陽光模擬器發(fā)光光譜能量分布。應(yīng)用于測量連續(xù)或脈沖光源光譜及太陽光模擬器的校驗(yàn)。
氣體分析儀 參考價(jià)：面議
氣體分析儀，強(qiáng)大的氣體分析模塊，基于我們強(qiáng)大的4波段分辨率的傅里葉變換紅外光譜和一個(gè)小型的5米光路，小體積（0.2升）多次加熱單元。
光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)是一款革命性的光學(xué)表面 質(zhì)量檢測系統(tǒng)，具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
非接觸式測厚儀 參考價(jià)：面議
非接觸式測厚儀采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理。可單次測量多層膜，最高可測 20 層。
夏克哈特曼傳感器 參考價(jià)：面議
夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準(zhǔn)直儀及四象限探測器優(yōu)點(diǎn)于一身，具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點(diǎn)。
干涉儀 參考價(jià)：面議
干涉儀：非接觸式技術(shù)檢測拋光平面和球面的精度（功率、不規(guī)則度）；測試表面半徑；檢測目標(biāo)傳輸波前畸變（TWD)。
Optikos相機(jī)測試系統(tǒng)Meridian Starfield 參考價(jià)：面議
Optikos相機(jī)測試系統(tǒng)Meridian Starfield采用緊湊型高精度設(shè)計(jì)，適用于生產(chǎn)線末端相機(jī)測試，或在大批量生產(chǎn)中對相機(jī)組件進(jìn)行主動(dòng)校準(zhǔn)。
Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng)融合了光學(xué)和光機(jī)工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設(shè)計(jì)的定制光學(xué)元件、...
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀 參考價(jià)：面議
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀，靈活擴(kuò)展的平臺(tái)能夠應(yīng)對更廣泛的測量 (例如：MTF、EFL、畸變等) 。
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價(jià)：面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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