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利用光彈調制器技術，Hinds 公司的應力雙折射測量系統(殘余應力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術解決方案。

應力雙折射測量系統，非球面透鏡應力雙折射測量，應力橢偏儀，應力橢偏測量,殘余應力測量

Hinds 公司的不規則非球面光學元件應力分布測量系統（應力雙折射測量系統）通過對光的調制解調可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數據同時也表示了應力的大小和方向。Hinds 公司這套不規則非球面光學元件應力分布測量系統的傾斜，多角度入射掃描技術可以保證對非球面不規則的光學元件（光刻機透鏡等）有著的掃描測量解決方案。