激光能量計 參考價：面議
Gentec Electro Optics提供系列產品以滿足您的脈沖能量測量需求。激光能量計從便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系...
激光能量計 參考價：面議
Gentec Electro Optics提供系列產品以滿足您的脈沖能量測量需求。激光能量計從便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系...
應力雙折射 參考價：面議
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds l...
應力雙折射測量系統 參考價：面議
Hinds 儀器的應力雙折射測量系統Exico-150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產品的工作平臺。 該系統具有足夠的多樣性，在生產車間和研發...
應力雙折射檢測 參考價：面議
在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片...
光束質量分析儀 參考價：面議
BEAMAGE系列光束質量分析儀分析激光光束是對其功率或能量測量的一種方便補充，因為光束質量分析儀提供了非常有用的附加信息，如空間能量或強度分布、光束寬度、質心...
激光功率計能量計 參考價：面議
加拿大Gentec-EO是激光功率計能量計供應商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。主要特點：1....
光學玻璃應力測量 參考價：面議
光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質量階段和硬件正常運行時間。
美國Hinds Instruments 參考價：面議
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力...
激光測厚儀 參考價：面議
OptiGauge 激光測厚儀,lumetrics 測厚儀具有以下特點：非接觸式、非破壞性；實時在線測量或離線測量；單次可測量20 層膜層；探針靈活配置，實現多...
激光功率計 參考價：面議
在這個領域擁有近50年的歷史，Gentec Electro Optics一直是激光功率計和能量測量領域的供應商。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP...
Gentec-EO激光功率計 參考價：面議
gentec-eo激光功率計和能量計在這個領域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO功率計的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從...
激光功率計 參考價：面議
在這個領域擁有近50年的歷史，Gentec Electro Optics一直是激光功率計和能量測量領域的供應商。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP...
PCI共光路干涉弱吸收儀 參考價：面議
PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內部產生熱波，從而在樣品內部形成周期性的...
角分辨散射測量系統-Horos簡易型散射儀 參考價：面議
角分辨散射測量系統-Horos簡易型散射儀角分辨散射測量系統-Horos(hight sensitive optical roughness sensor)簡易...
穆勒矩陣測量系統 參考價：面議
穆勒矩陣測量系統中采用四個光彈性調制器(PEM)，150XT Mueller偏振計可以在短時間內同時測量所有十六個穆勒r矩陣元素和樣品的完整偏振特性。 Hind...
角分辨散射儀 參考價：面議
ALBATROSS-TT是由德國Fraunhofer IOF 研發的角分辨散射儀，具有高動態范圍、高靈敏度、低噪聲等特點。
UP19-W 系列功率測量 參考價：面議
UP19-W 系列功率測量,熱電堆只是一系列熱電偶串聯連接并相互靠近。常見的應用是當施加電壓以冷卻熱電堆的一側以及它所粘合的任何一側時。然而，激光功率測量熱電堆...
Gentec-EO功率計 參考價：面議
Gentec-EO功率計和能量計在這個領域擁有超過45年的歷史。Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭，UP19-VR...
激光功率計 參考價：面議
在這個領域擁有近50年的歷史，Gentec Electro Optics一直是激光功率計和能量測量領域的供應商。Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP1...
激光功率計能量計表頭 參考價：面議
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭，為擁有激光功率測量系統，您將需要一款采集與讀出設備搭配您的功率探測器。無論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
光學表面瑕疵檢測 參考價：面議
QptLuxSD是一款創新性的光學表面瑕疵檢測，具備高重復性和準確性，系統根據設定的檢驗標準自動生成詳細的通過/失敗報告，與光學行業現在很多的具有很強主觀性的人...
CRD高反射率測量儀 參考價：面議
針對高反射率（R99.7%）的光學樣品，德國 IPHT Jena研發了光腔衰蕩光譜法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）CR...
激光功率計能量計表頭 參考價：面議
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計能量計表頭，為擁有完整的激光功率測量系統，您將需要一款采集與讀出設備搭配您的功率探測器。我們提供不同功能的設備以滿足需求...
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