目錄:北京杜克泰克科技有限公司>>光聲光譜氣體分析儀>>離子遷移譜>> EDK 4500 EIMS增強離子遷移譜氣體分析儀
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概述
增強離子遷移譜氣體分析儀可提供達100 FWHM的分辨率，足以分辨異構體成分。SIMS的一大優勢是可以使用環境大氣作為緩沖氣，這一優勢就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術通過電暈放電（CD）電離源提升了靈敏度。除了其他比如無放射性和更高離子產量的優勢之外，我們的技術還提供了電暈放電選擇性反應物離子的產生。除了可供OEM的SIMS引擎，我們還提供可與GC聯用便攜式的PSIMS，可配置正負極性的雙離子遷移光譜儀DSIMS等，以滿足不同的需求。
增強離子遷移譜氣體分析儀應用：
l 過程快速監測
l VOC/TOC監測
l 痕量氣體分析
l 液體分析，固體和表面分析
l 爆炸物分析
l 藥品質量控制
特點
l 高分辨力和靈敏度
l 無放射性等離子電離源
l 可在大氣壓或者次大氣壓下運行
l 選擇性反應物離子生成
l 與其他分離技術結合
l 對所有運行參數的全面控制
配套的軟件可以快速查看屬于當前操作間的測量點；由于這些點的分析是EIMS完成的，每個測量點的目標氣體都是同步檢測的。對于每個測量點，可以看到上一次測量的值，而當前測量點會突出顯示所在的狀態。此外，還可以查看系統是在手動模式還是自動模式下測量，是在測量樣本還是在后臺階段，自動序列的哪個點正在掃描，以及一個進度條，指示序列的下一步還剩多少。
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