MC-2010A型手持式涂鍍層測厚儀工作原理

MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂（鍍）層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層厚度。

MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀產(chǎn)品簡介

MC-2010A型涂（鍍）層測厚儀是*的結(jié)晶。涂層測厚儀采用單片機技術(shù)，測量精度高、數(shù)字顯示、操作簡單方便、觸摸按鍵、內(nèi)置探頭全量程測量、體積小、重量輕; 強大的抗*力，求值更穩(wěn)定；且具有低電壓指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準功能，其性能已達到當代同類儀器的*水平。 MC-2010A涂層測厚儀是一款經(jīng)濟型通用涂層測厚儀，其產(chǎn)品優(yōu)勢為：性能與進口測厚儀性能一樣好，操作簡單，測試速度快，靈敏度好，測量精度高。

   MC-2010A涂層測厚儀可應(yīng)用在無損、快速和高精度涂鍍層測厚領(lǐng)域。它是油漆、防腐蝕、電鍍、汽車工業(yè)、輪船運輸、飛機制造等相關(guān)行業(yè)理想的輔助制造生產(chǎn)工具。它可以穩(wěn)定地工作于實驗室，車間現(xiàn)場和戶外。

   我公司具有20年的測厚儀專業(yè)研發(fā)生產(chǎn)經(jīng)驗，力求給您zui的品質(zhì)體驗。MC-2010A涂層測厚儀為內(nèi)置測量探頭，該涂層探頭的探點加入一種PIONEO超硬涂層，用于強化表面，其厚度僅為1毫米的千分之幾，但卻有超乎想象的高強硬度和高耐磨性。這種全新的深層技術(shù)已經(jīng)嵌入到部件中，其測量誤差、耐磨性比其它同類儀器又提高了一個檔次。

MC-2010A型涂鍍層測厚儀應(yīng)用范圍

本儀器采用磁性測厚法，可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

二、MC-2010A型涂鍍層測厚儀產(chǎn)品性能

MC-2010A型涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)

1、測量范圍：0~1200um

2、測量誤差：<3%±1um

3、zui小示值：1um

• 4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：內(nèi)置探頭全量程測厚

   (2).統(tǒng)計：設(shè)有三個統(tǒng)計量：平均值、zui大值、zui小值

   (3).校準：可進行零點校準、兩點校準及系統(tǒng)校準

   (4).電量：具有欠壓顯示功能

   (5).蜂鳴提示：操作過程中有蜂鳴提示

   (6).關(guān)機：具有自動關(guān)機和手動關(guān)機兩種方式

6、電源：  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：  zui大功耗90mw

8、外形尺寸：112mm*44mm*25mm

9、重量：    100g(含電池)

10、使用環(huán)境溫度：　0℃~+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度： 0.5mm

12、基體zui小平面的直徑： 7mm

13、zui小曲率半徑： 凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：   右上角顯示＂＂

*臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

三、MC-2010A型涂層測厚儀配置單

 1、涂層測厚儀MC-2010A                  一臺

 2、1.5v電池 (7號)                      二節(jié)

 3、標準樣片              一盒

 4、標準鐵基                            一塊

 5、小鋁箱                              一個

 6、說明書、合格證                      一套

MC-2010A型手持式涂鍍層測厚儀校準方法

涂（鍍）層測厚儀可能會出現(xiàn)測什么厚度都顯“0”，或精度達不到，我們可以通過系統(tǒng)初始化設(shè)置進行系統(tǒng)恢復(fù)。系統(tǒng)初始化是這樣的：在關(guān)機狀態(tài)下，同時按住“▲▼”鍵不動，然后按一下“ON/OFF”鍵，直到屏幕顯示“OK”。松開“▲▼”鍵，初始化設(shè)置即可完成。此時儀器顯示“鐵基”或“基體”，儀器進入系統(tǒng)狀態(tài)，按照系統(tǒng)校準的方法，校準完成后即可正常測量。系統(tǒng)校準過程是這樣的：在關(guān)機狀態(tài)下，同時按住“MENU”鍵和“ON/OFF”鍵，先放開“ON/OFF”鍵，然后放開“MENU”鍵，即可進入系統(tǒng)校準模式。本系統(tǒng)校準共需要校準五個標準樣片，進入系統(tǒng)后顯示“鐵基”或“基體”界面，此時要把探頭垂直的放到被測件的裸露基體上進行測量。測量兩次后如果測量沒有錯誤，伴隨著兩聲蜂鳴便進入*個樣片的測量。液晶顯示出廠時提供的*個樣片值。如果顯示值和真實值不符，可以通過“▲▼”鍵進行加或減操作。按住“▲”或“▼”鍵不動可以連續(xù)加或減，直到調(diào)到顯示值與真實值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對*個樣片進行測量，測量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進入下一個樣片的校準。若測量兩次仍沒有兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重新測量一次即可。接下來四個樣片的調(diào)整方法同上。當?shù)谖鍌€樣片校準完成后，液晶上顯示“0000”，進入開機界面如圖A或圖B，儀器此時完成了系統(tǒng)校準過程，就可以對被測件直接進行測量。