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• 高分辨率可準確測量及分析小光束質(zhì)量特性
• 可為大光束進行分析的大面積傳感器
• USB 3.0接口實現(xiàn)快傳輸率

Edmund Optics® (愛特蒙特光學(xué))光束質(zhì)量分析儀設(shè)計用于測量各類激光束尺寸，為優(yōu)化激光系統(tǒng)操作提供信息。這些激光束質(zhì)量分析儀配有高分辨率和大面積傳感器，以確保能夠針對小型和大型激光束進行精密分析。有兩種尺寸可供選擇，光束質(zhì)量分析儀采用適用于 1 英寸 x 32 TPI 安裝的螺紋，使之能夠與 C 接口配件兼容. 愛特蒙特光學(xué)光束質(zhì)量分析儀備有一外部觸發(fā)器，可通過脈沖激光與相機同步，同時具有 USB 2.0 與 3.0 兼容性，可提供業(yè)內(nèi)快的傳輸率。每臺光束質(zhì)量分析儀還包括具有多個顯示選項（2D，3D 和 XY）的直觀光束分析軟件，以及許多控制工具，例如背景減除功能和高斯擬合.

支架:

1" x 32 TPI (C-Mount)

幀頻 (fps):

9 (at full frame)

像素 (H x V):

2048 x 1088 (2.2 MegaPixel)

像素大小，H x V (μm):

5.5 x 5.5

波長范圍 (nm):

350 - 1150

輸入光束要求 :

Minimum 55μm (10 x 10 pixels)

感應(yīng)區(qū)域，H x V (mm):

11.3 x 6.0 

包含的濾波器 :

Neutral Density, OD 4.0 (x1)