高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）：電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)測試。
一、型號：TSC-225PF-2P
二、沖擊溫度：-40~150
三、精度條件：高溫~低溫5分鐘內(nèi)達(dá)到，9點溫度均勻度正負(fù)2度
高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）
一般來說，高低溫沖擊試驗箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測、試驗、恢復(fù)、最后檢測。下面皓天鑫和大家一起分享一下詳細(xì)流程內(nèi)容：
1.預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2.初始檢測：將被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對照，符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內(nèi)即可。
3.試驗：
1)試驗樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗箱內(nèi),并將試驗箱(室)內(nèi)溫度升到達(dá)點，保持一定的時間至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準(zhǔn)。
2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準(zhǔn)。3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時間長都為準(zhǔn)。
4、重復(fù)上述實驗方法,以完成三個循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。恢復(fù)：試驗樣品從試驗箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。
5.后檢測：對照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測結(jié)果評定。
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