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如何選擇一款適用型的Seebeck系數及熱電材料測試儀

閱讀:359      發布時間:2019-08-12
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如何選擇一款適用型的Seebeck系數及熱電材料測試儀

關鍵詞:Seebeck系數,熱電,BKTEM-Dx

 

   背景分析:

?熱電材料是一種能將熱能和電能相互轉換的功能材料,1823年發現的塞貝克效應和1834年發現的珀耳帖效應為熱電能量轉換器和熱電制冷的應用提供了理論依據。隨著空間探索興趣的增加、醫用物理學的進展以及在地球難于日益增加的資源考察與探索活動,需要開發一類能夠自身供能且無需照看的電源系統,熱電發電對這些應用尤其合適。

現狀:

    熱電性能分析系統是我國熱電材料的設備,是國家材料計劃中前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料測試儀,其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內高等院校和材料研究所的重要設備。

由我國自主研發的BKTEM-Dx熱電性能分析系統是目前市場上即經濟又適用的賽貝克系數測試儀,該儀器已經實現了全自動化測試,性能基本同日本的ZEM-3相當,而且可調整的空間更大。即可滿足我們國內的科研要求,又可以滿足教學,是精密測量設備。

 

BKTEM-Dx熱電性能分析系統相比于國內其他廠家的設備,性能好,價格實惠。不像別的設備價格虛高,做一款實在的科研設備,為我們國家的教育提供技術支持一直是我們的目標。

 

未來展望:

熱電材料塞貝克效應和帕爾帖效應發現距今已有100余年的歷史,無數的科學家已對其進行了深入而富有成效的研究和探索,取得了輝煌的成果。隨著研究的不斷深入,相信熱電材料的性能將會進一步提高,必將成為我國新材料研究領域的一個新的熱點。在今后的熱電材料研究工作中,研究重點應集中在以下幾個方面:

(1)利用傳統半導體能帶理論和現代量子理論,對具有不同晶體結構的材料進行塞貝克系數、電導率和熱導率的計算,以求在更大范圍內尋找熱電優值ZT更高的新型熱電材料。

(2)從理論和實驗上研究材料的顯微結構、制備工藝等對其熱電性能的影響,特別是對超晶格熱電材料、納米熱電材料和熱電材料薄膜的研究,以進一步提高材料的熱電性能。

(3)對己發現的高性能材料進行理論和實驗研究,使其達到穩定的高熱電性能。

(4)加強器件的制備工藝研究,以實現熱電材料的產業化。

產品技術參數如下 :

產品介紹:

   BKTEM-Dx熱電性能分析系統是我國熱電材料的設備,是國家材料計

劃中前沿裝備,是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料

測試儀,其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材

料同時也可以用于薄材料的測試,是目前國內高等院校和材料研究所的重要設

備。

對于熱電材料的研究,熱電性能測試是*的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:

該裝置由高精度,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出,自動出來測試數據和測試報告。

一、適用范圍:

1、地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身分析軟件,獨立分析,過程自動控制,界面友好。

6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。

二、技術特點:

·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。

  • 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。
  • 每次可測試1-3個樣品.
  • 采用數據采集技術,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
  • 采用*的采集儀,測試報告自動生成。
  •  

測量溫度:室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選

同時測試樣品數量:1個,2個,3個 可選

控溫精度:0.5K(溫度波動:≤±0.1℃)

升溫速率:0.01 100K/min,極大得提高測試時間

測量原理:塞貝克系數:靜態直流電;電阻系數:四端法

測量范圍:塞貝克系數:0.5μV/K_25V/K;電阻系數:0.2Ohm-2.5KOhm

分辨率:塞貝克系數:10nV/K;電阻系數: 10nOhm

測量精度:塞貝克系數:<±6%;電阻系數:<±5%

樣品尺寸:塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:50 nm

熱電偶導距: ≥6 mm

   流: 0 to 160 Ma

   氛:0 to 160 mA

加熱電極相數/電壓:單相,220V,

夾具接觸熱阻:≤0.05 m2K/W

 

 

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北京精科智創科技發展有限公司

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