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GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統(tǒng)

      材料分析夾具及配備分析軟件

關鍵詞：阻抗分析,壓電陶瓷，

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統(tǒng)是國內符合LXI標準的新一代高溫壓電阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料絕大部分低壓參數(shù)的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統(tǒng)產(chǎn)品超高速的測試速度使其特別適用于自動生產(chǎn)線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統(tǒng)產(chǎn)品以其的性能可以實現(xiàn)商業(yè)標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在全國各大學校和科研院所中廣泛使用。

一、常溫下可測量產(chǎn)品廣泛應用范圍：

1. 無源元件：傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二極管、變壓器電,壓電器件，芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)分析和性能分析

2. 半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

3. 其他元件：印制電路板，繼電器，開關，電纜，電池等的阻抗評估

4. 介質材料：塑料，陶瓷和其他材料的介電常數(shù)和損耗角評估

5. 磁性材料：鐵氧體，非晶體和其他磁性材料

6. 半導體材料:半導體材料的介電常數(shù)，電導率和C-V特性

7. .液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常熟等C-V特性

三、高溫主要測量參數(shù)：

1、測量以下參數(shù)隨溫度（T）、頻率（f）、電平（V）、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2、測量電容（C）、電感（L）、電阻（R）、電抗（X）、阻抗（Z）、相位角（￠）、電導（G）、電納（B）、導納（Y）、損耗因子（D）、品質因素（Q）等參數(shù)，

3、同時計算獲得反應材料導電、介電性能的復介電常數(shù)（εr）和介質損耗（D）參數(shù)。

二、主要技術參數(shù)：

1.測試頻率：20HZ-10MHZ（特殊可以定制）

2. 測試電平:10mV～5V±（10%+10mV）

3．溫度范圍：-80℃-600℃（可選）

2、測溫精度      0.1℃

3、升溫速度      1—20。C/min3.

4. 測試參數(shù)：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.控溫模式：  程序控制，提供常溫、變溫、恒溫、升溫、降溫等多種組合方式

6. 基本準確度: 0.1%

7.電極材質:   鉑銥合金

8.軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

9. 顯示器: 350×260點陣圖形LCD液晶顯示

10. 可測量22種阻抗參數(shù)組合

11. 接口方式: RS232C或HANDLER

12. 電壓:AC-220V

13. 體積：高80mm＊寬205mm＊長230mm

14. 重量:3.5KG

15、外形尺寸：     L360mm*W370mm*H510mm

16、凈   重：          22KG