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技術文章

掃描電鏡SEM掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)

閱讀:9178          發布時間:2016-9-1

掃描電子顯微鏡JSM-it100(A)主要特長

標準配置EDS分析功能的分析型掃描電鏡                                          

標準配置EDS分析功能的JSM-IT100A,不僅能獲取高分辨率的圖像,還采用了無需液氮制冷的EDS檢測器 (DRY SD),能夠進行定性分析、定量分析、元素面分布。此外,搭載的大型全對中形樣品臺可以對應各種樣品。

 

電子光學系統                                                

JSM-IT100A是日本電子株式會社推出機型,沿襲日本電子的電子光學系統,集合了分析掃描電鏡精髓功能,設計精簡自動化程度高。

 

使用多點觸摸屏,操作舒適                                            

JSM-IT100A通過多點觸控技術和的操作軟件,操作直觀簡單。只需輕觸屏幕就能操控各種功能,舒適便捷。新開發的操作界面簡明易懂,即使是SEM新手也能輕松獲得高品質的SEM圖像,進行EDS元素分析。

主要參數:

放大倍數: ×5~×300,000 

探測器:二次電子探測器/半導體背散射電子探測器

加速電壓:0.5KV ~ 20KV

zui大樣品尺寸:直徑150mm高度為48mm的樣品

探測器:電制冷方式BOX-SDD探測器 -無需使用液氮

標準搭載功能:

Qualitative Analysis 定性分析

Quantitative Analysis 定量分析

Active Mapping 活區面分析

Point Analysis   點分析

Probe Tracking 束流追蹤

 

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