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詳細摘要： 二手三重四極桿質譜儀 Agilent 1260+6460主要用于微量或痕量有機代謝產物的定量定性分析;有機化學污染物的分析,比如食品、農產品安全、農藥獸藥殘留等的測定。可用于獸藥殘留、瘦肉精、真菌毒素、抗生素等非法添加物等項目的檢測。

詳細摘要： 二手三重四極桿質譜儀 Agilent 6490采用安捷倫科技的Jet stream源技術，可大大提高離子化效率，從而提高靈敏度；還應用了全新的ifunnel離子漏斗技術，進一步去除中性分子，提高靈敏度。

詳細摘要： 二手安捷倫LC-MSMS1290+6490液質質重四極桿液質聯(lián)用儀具有的 iFunnel 技術使得靈敏度達到了新的水平，它能幫助您應對各種應用挑戰(zhàn)，包括醫(yī)藥分析、臨床診斷、食品安全以及環(huán)境分析。擴展的線性范圍增強了 6490 串聯(lián)四極桿液質聯(lián)用系統(tǒng)的定量能力。

詳細摘要： 二手ETHOS UP 微波消解多功能微波化學平臺:集微波消解、萃取、熔融、蛋白質水解、原位趕酸、濃縮、干燥于一身 能量輸出設計,采用Power Enable技術，使微波輸出功率達到了1900W 創(chuàng)新性的70.5L超大反應腔體，具有更高的樣品通量和更高的安全性能 44位100ml高溫高壓微波消解轉子，在滿足更大樣品量的同時單次處理樣品數(shù)量更多。

詳細摘要： 二手 Q ExACTIVE液質聯(lián)用儀組合型四極桿 Orbitrap 質譜儀是賽默飛世爾科技的一款質譜分析平臺，在高 m/z 下顯著提高靈敏度和質量分辨率，并具有 MS2 和偽 MS3 功能，為研究蛋白質復合物的結構和異質性創(chuàng)造了一個強大的分析解決方案。Q Exactive UHMR 質譜儀具有進行非變性完整質量及自上而下分析的出色能力。

詳細摘要： 二手FIB+雙束FIB+場發(fā)射電鏡在高科技領域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術的企業(yè)，其產品在全球范圍內被廣泛使用。淮安富匯電子有限公司，作為專業(yè)的第三方供應商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應的美國FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細摘要： 二手SEM+EDX場發(fā)射電鏡:超高分辨率：場發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠實現(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

詳細摘要： 耐馳二手DSC-200f3差示掃描量熱儀是用于測量樣品在一定氣氛及程序溫度下 ,樣品端與參比端熱流或熱功率差隨溫度及時間的關系，具有能定量測定多種熱力學和動力學參數(shù)、寬溫度范圍、高分辨力、高靈敏度、樣品用量少等優(yōu)點。

詳細摘要： sigma500 二手蔡司場發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設備，它采用成熟的GEMINI光學系統(tǒng)設計，分辨率超過0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺。這款設備專注于EDS幾何學設計，可以獲取分析性能，而且有多種探測器選擇，可以精準匹配您的應用程序，獲取微小粒子、表面、納米結構等多種圖像信息

詳細摘要： 二手日立SU-8010場發(fā)射電鏡包括SU-8010主機和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

詳細摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細摘要： 二手shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器：Amptek產品為X射線熒光光譜儀（XRF）、RoHS分析、空氣環(huán)境測試、土壤、貴金屬、伽瑪射線的探測、考古、空間探測防等客戶提供高質量及高可靠性完整X射線熒光光譜分析部件：X射線熒光光譜探測器、X射線光管、電荷靈敏前端放大器、數(shù)字脈沖處理器、電源、新型窗口材料B4C及分析軟件。與此同時，Amptek公司的混合前置放大器。

詳細摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察。

詳細摘要： 供應進口(二手熱重)tga熱重分析儀在振動性、穩(wěn)定性、噪聲水平、室溫波動的耐受性等測試中的表現(xiàn)都非常令人滿意。可清晰檢測出樣品幾微克（的重量變化。另有高溫型（ H-型）以及大樣品量型（51-型）可滿足陶瓷、催化劑等領域的應用需要。

詳細摘要： 供應（二手）TA-DMA-Q800是TA儀器中的熱動態(tài)機械分析DMA儀器，能為各種應用提很好的解決方案。它巧妙地應用了非接觸馬達的施加應力以及低摩擦的空氣軸承技術。應變的測量是通過光學編碼器，實現(xiàn)靈敏度和分辨率配合。

詳細摘要： （二手）美國TA-DMA-Q800動態(tài)熱機械分析儀（DMA）是讓材料在周期變化的應力作用下，測定其模量（剛性）和阻尼（能量損耗）特性。Q800動態(tài)熱機械分析儀主要由馬達和位移傳感器兩大部分構成，它巧妙地應用了非接觸馬達精確的施加應力以及低摩擦的空氣軸承技術，應變的測量是通過光學編碼器，實現(xiàn)靈敏度和分辨率。通過儀器測量可以提供材料性能方面定性和定量的信息，為材料分析提供了方案。

詳細摘要： 二手TA動態(tài)熱機械分析儀DMA-Q800DMA動態(tài)熱機械分析儀用來測定在周期性振動應力下，材料隨時間、溫度或頻率變化而變化的力學性能和粘彈性能。應用于熱塑性塑料、熱固性材料、復合材料、彈性體、陶瓷、金屬和其它粘彈性材料以及纖維、薄膜等。

詳細摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學和工業(yè)應用中用來以高分辨率檢查樣品表面的強大工具。與傳統(tǒng)光學顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來產生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產生各種信號，被檢測到并轉換成圖像。初級電子束對表面進行高精度掃描，以便對樣品的地形和形態(tài)進行詳細檢查。SEM的主要優(yōu)點之一是能夠實現(xiàn)高分辨率成像。

詳細摘要： 供應二手島津edx-le/7000/8000能量色散X射線熒光光譜儀使用X射線照射樣品，測量所產生的熒光X射線的能量（波長）和強度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由于X射線熒光光譜法可以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可以快速、非破壞性的測試印刷電路板和其他電子設備中有害元素，因此被廣泛用于全球的電子電氣和汽車制造企業(yè)，應用于符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和質量控制。

詳細摘要： 二手島津EDX-LE/7000/8000在當今快速發(fā)展的科技和工業(yè)領域，精確的元素分析對于確保產品質量、滿足法規(guī)要求以及推動科研創(chuàng)新至關重要。島津企業(yè)推出的能量色散型X熒光光譜儀EDX-LE/7000/8000，正是這樣一款集高效、準確與便捷于一體的分析儀器，廣泛應用于RoHS/ELV法規(guī)限制的有害元素篩選分析、材料科學研究、環(huán)境監(jiān)測以及眾多工業(yè)領域。