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CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀 參考價(jià):面議
CST-50沖擊試樣缺口夏比投影儀是于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。 本沖擊試樣缺口投影儀是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口標(biāo)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)