尼克斯 QNix 8500膜層測厚儀*

優點：
德國尼克斯QNix8500膜層測厚儀只需調零，無需校準
測量精度高
一體分體通用
可配多種探頭
中英文菜單操作
智能化
帶存儲，并可連計算機對數據進行處理分析
德國尼克斯QNix8500膜層測厚儀可連接薄鍍層探頭，對極薄的鍍層厚度測量，誤差小于±3um

可選探頭：
Fe鐵基探頭：    0－2000μm    0－5000μm
NFe非鐵基探頭:  0－2000μm    0－5000μm
NFe/Fe兩用探頭：0－2000μm    0－5000μm
無線傳輸探頭
薄鍍層探頭

德國尼克斯 QNix 8500膜層測厚儀可通過更換探頭來滿足不同的測量需求，可存儲數據，并且可與計算機進行無線傳輸。探頭可直接與主機連接，進行一體化測量，也可通過探頭電纜線來與主機連接，進行分體測量。分體測量操作簡單，可很大程度上避免誤操作產生的誤差。德國尼克斯 QNix 8500膜層測厚儀測厚儀主機通用，探頭分為磁性探頭、渦流探頭及雙用探頭，探頭的測量范圍有0-2mm和0-5mm兩種，用戶在購買該產品時要根據需求選購合適的探頭，如有不明白的地方敬請。