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篤摯儀器(上海)有限公司

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[供應(yīng)]德國(guó)EPK MiniTest 730

貨物所在地:上海上海市

產(chǎn)地:德國(guó)

更新時(shí)間:2025-04-18 09:29:28

有效期:2025年4月18日 -- 2026年4月18日

已獲點(diǎn)擊:63

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德國(guó)Elektrophysik測(cè)厚儀
英國(guó)Taylor Hobson泰勒粗糙度儀
德國(guó)Fischer菲希爾
英國(guó)易高Elcometer測(cè)厚儀
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日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
美國(guó)GE無損檢測(cè)
德國(guó)BYK
美國(guó)FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
上海尚材 SCTMC
北京時(shí)代 TIME
瑞士Wyler
美國(guó)狄夫斯高
美國(guó)Mark-10測(cè)力計(jì)
森薩帕特Sensopart
英國(guó)雷尼紹
瑞士TRIMOS
德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾
英國(guó)牛津Oxford
美國(guó)雷泰 Raytek
美國(guó)Fluke 福祿克
香港嘉怡CanNeed
美國(guó)api
杭州思看科技
德國(guó)EPK MiniTest 730
-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出

德國(guó)EPK MiniTest 730



 

標(biāo)準(zhǔn)配置:                                     推薦配件:
帶塑料手提箱,內(nèi)含:                                                                                  -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測(cè)量支架
-MiniTest 720(內(nèi)置探頭)
--或MiniTest 730(外置探頭)
--或MiniTest 740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
 

elektrophysik測(cè)厚儀德國(guó)EPK MiniTest 730涂層測(cè)厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表 
SIDSP探頭


探頭 
特性

F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

F2

F5,N2.5,F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測(cè)量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號(hào)處理

探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

zui小測(cè)量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測(cè)量速度

每秒20個(gè)讀數(shù)

單值模式下zui大測(cè)量速度

每分鐘70個(gè)讀數(shù)

elektrophysik測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽:

-SIDSP使測(cè)量不受干擾,測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測(cè)量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件


elektrophysik測(cè)厚儀

 

elektrophysik測(cè)厚儀主機(jī)


型號(hào) 
特性

MiniTest 720

MiniTest 730

MiniTest 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量

zui多10,000個(gè)

zui多10,000個(gè)

zui多100,000個(gè)

統(tǒng)計(jì)值

讀值個(gè)數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

極限值監(jiān)控

聲、光報(bào)警提示超過極限

測(cè)量單位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

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