德國EPK MiniTest 730

F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5

F2

F5，N2.5，F(xiàn)N5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用

粗糙表面

標準探頭，使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號處理

探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）

度

±（1μm+0.75%讀值）

±（1.5μm+0.75%讀值）

±（5μm+0.75%讀值）

重復(fù)性

±（0.5μm+0.5%讀值）

±（0.8μm+0.5%讀值）

±（2.5μm+0.5%讀值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半徑（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半徑（凹，外置探頭）

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）

30mm

30mm

30mm

zui小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測量速度

每秒20個讀數(shù)

單值模式下zui大測量速度

每分鐘70個讀數(shù)

MiniTest 720

MiniTest 730

MiniTest 740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲數(shù)據(jù)量

zui多10,000個

zui多10,000個

zui多100,000個

統(tǒng)計值

讀值個數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標準方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計值（標準設(shè)置/自由配置）

校準程序符合標準和規(guī)范

ISO，SSPC，瑞典標準，澳大利亞標準

校準模式

出廠設(shè)置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調(diào)節(jié)補償值

極限值監(jiān)控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

um，mm，cm；mils，inch，thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0（紅外接口）

電源

2節(jié)AA電池

標準

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g（內(nèi)置）/230g（外置）