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用于動力學監控的原位納米粒度測量技術
閱讀：1407發布時間：2020-03-30
| 提 供 商： | 儀思奇（北京）科技發展有限公司 | 資料大小： | 1.4MB |
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詳細介紹
本文介紹了用于原位納米粒度分析的遠程光纖探頭技術VASCO KinTM。由法國技術公司（CORDOUAN Technologies）開發的VASCO KinTM是一款功能的納米粒度分析儀，它利用的單模光纖技術將DLS測量導入到你的過程監控。創新的光纖遠程探頭(下文介紹其原理)使VASCO Kin能夠非常簡單地結合到你現有的實驗裝置上(如合成反應器或小角X光散射SAXS系統)，給用戶提供了大的測量靈活性，以監測和改進其工藝過程的顆粒粒度隨時間或反應條件的變化。
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