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產品簡介
詳細介紹
1. XOS 公司介紹：
◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學系統公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質平臺子公司。
◆ XOS®是一家關鍵性應用材料和元素分析設備供應商，為重視控制材料質量與性能的行業監管部門和客戶提供擁有*技術的分析設備。
◆ XOS公司擁有強大的研發和設計能力，與美國的眾多研究機構有合作關系，曾經參與了許多*的課題設計，包括美國宇航局的行星元素探測計劃（XRF方法）等。
◆ XOS擁有X射線光學技術，能夠幫助客戶將測量靈敏性提高百倍，減少測量時間，提高空間分辨率，縮小設備尺寸，并且節約設備成本。
◆ XOS公司的光學晶體廣泛應用于大型波長色散型XRF、微區聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器。XOS公司與其他*的XRF生產廠商都有合作，提供給它們必需的光學聚焦晶體。
◆ XOS公司具備HDXRF的核心技術——DCC，也是目前一家擁有自己核心技術的XRF生產廠商，其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片、準直器等均為外購。
◆ XOS公司在元素分析領域有著廣泛的技術應用，XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作，研發了一款專門用于2020火星計劃的XRF元素分析儀
2. 主要技術參數和優點：
1) 采用DCC®（雙曲面彎晶技術），取代傳統的濾光片和準直器，真正實現單色光激發樣品；
2) 檢測光斑1mm，適合測試不規則樣品和細小樣品；
3) 采用高速SDD硅漂移探測器，分辨率高，無需液氮冷卻；
4) 滿足美國ASTM F2853標準；
5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量；
6) 采用基本參數法，可分析各類未知樣品；等等
美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀
用于玩具和兒童用品
HD Prime用XOS*的高清晰光譜技術，測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素，可測量出微量成份。HD Prime分析儀采用光學分析技術，可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份。這種分析技術可測量目前和將來由CPSIA規定的含量極限。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面，既能快速定性檢測，又能精確定量分析。性能價格比高。測量是非破壞性的，不需要費錢耗時的樣品準備，而且不會損壞被測商品，已備復查。高清晰光譜儀使負責產品安全的行業和政府管理部門能夠快速、準確、方便地檢測產品。
檢測鉛和其它有毒元素
應用領域
•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量，符合CPSIA規定的要求
•快速準確地定性定量分析有毒元素
•使用場合:工廠的生長線上和實驗室、第三方檢測實驗室、零售商、檢測部門
•符合ASTM F2853和F2617標準
性能和特點
•測定有毒元素（Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，and CI)
•HD Prime 可分別測出產品基材和涂層中有毒元素的成份
•1mm小面積分析，能檢測不規則形狀
•使用方便，可供工廠、實驗室使用，2小時培訓
•不需要樣品準備：無須剝離和浸煮涂層，從而不破壞產品結構
•定性檢測模式：提供有毒元素快速檢測
•定量檢測模式：精確地確定涂層和基底材料中元素成份
產品規格 | 元素 | Pb，Sb，As，Ba，Cd，Cr，Hg，Se，Br，Cl |
分析范圍 | 小于5000ppm | |
分析模型 | 定性模式：快速檢測元素的存在 定量模式：精確準確地確定元素成份 | |
一次測量可同時得到涂層和基底中的元素成份并分別記錄 | ||
定性測量時間只測基底 | 塑料，木頭，橡膠，皮革，織物，濕涂料未~2min 金屬為~3min | |
定量測量時間涂層 | ~5min | |
測量面積 | 直徑1mm | |
環境溫度 | 5-35°C | |
相對濕度 | 80%max | |
功率要求 | 90~264VAC,47~63Hz | |
光管電壓 | 50kVmax | |
系統功耗 | 200W max | |
結構 | 分析儀尺寸 | H:812mm.W:914mm. D:660mm（32”×36”×26”） |
樣品室尺寸 | H:560mm.W:851mm. D:582mm （22”×33.5”×23”） | |
分析儀重量 | 110kg（240Ibs） | |
數據輸出 | 硬盤存儲 為LIMS連接USB輸出接口 | |
攝像頭 | 一個攝像頭：樣品的大視角成像 另一攝像頭：分析面積的近視角成像 | |
操作 系統 | 視窗系統 | |
探測面積選擇 | 激光對中 | |
用戶界面 | 材料選擇 | 塑料，金屬，木頭，玻璃，橡膠，皮革，織物 |
量化：測試結果 | 基底中的成份單位是ppm(wt），用顏色塊表示是否通過涂層中成份單位是ppm（wt）和ug/cm2 ，用顏色塊表示是否通過 包含光譜分析 | |
定性：測試結果 | 顏色塊表示是否通過 | |
用戶輸入操作員名字和樣品細節 | 用戶，樣品定義和描述 | |
數碼成像 | 每次測量都儲存樣品和被測面積的圖像 | |
校準 | 自動校準程序 |