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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 平板熱流計(jì)法 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,地礦,能源,航空航天 |
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
LP-DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（熱流法）主要測(cè)試薄的熱導(dǎo)體、固體電絕緣材料、導(dǎo)熱硅脂、樹(shù)脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導(dǎo)熱系數(shù)。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：MIL-I-49456A（絕緣片材、導(dǎo)熱樹(shù)脂、熱導(dǎo)玻纖增強(qiáng)）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導(dǎo)性固體電絕緣材料傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)）等。
儀器特點(diǎn)：
帶自動(dòng)加壓，自動(dòng)測(cè)厚裝置，并連計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)控制。儀器采用6點(diǎn)溫度梯度檢測(cè)，提高了測(cè)試精度?？蓹z測(cè)不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學(xué)模型，可測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個(gè)參數(shù)。
LP-DRL-III導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀（熱流法）廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導(dǎo)熱分析檢測(cè)。
主要參數(shù)
1、試樣大?。?Phi;30mm
2、試樣厚度：0.02-20mm
3、熱極控溫范圍：室溫-99.99℃
4、冷極控溫范圍：0-99.0℃
5、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試范圍：0.05～45 W/m*k
6、熱阻測(cè)試范圍：0.05～0.000005m2*K/W
7、壓力測(cè)量范圍：0～1000N
8、位移測(cè)量范圍：0～30.00mm
9、測(cè)試精度：優(yōu)于3％
10、實(shí)驗(yàn)方式：a、試樣不同壓力下熱阻測(cè)試。b、材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試。c、接觸熱阻測(cè)試。
11、計(jì)算機(jī)全自動(dòng)測(cè)試，并實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。