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布魯克電鏡專用原位納米力學系統 PI 85L布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學、電學和力學的測試系統，利用SEM的高分辨率，...
布魯克高精度納米力學測試系統TI Premier布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學測試系統是布魯克公司研制的自動化、高通量測試儀器，通過...
布魯克高精度納米力學測試系統TI 980布魯克TI 980高精度納米力學測試系統是布魯克公司研制的自動化、高通量的測試儀器，可以用來表征材料多項納米力學性能，包...
探針式表面輪廓儀DektakXT布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5...
光學輪廓儀NPFLEX 3D布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統為精密制造業帶來的檢測能力，實現更快的測量時間，提高了產品質量和生產力。基于白光干涉的原理...
三維光學輪廓儀ContourX-100該小尺寸系統采用流線型設計，結合了數十年專有的布魯克白光干涉儀（WLI）創新，可提供毫不遜色的2D/ 3D高分辨率測量功能...
三維光學輪廓儀ContourX-200ContourX-200光學輪廓儀融合了高級表征、可定 制選項和易用性，可提供的快速、準確和可重復的 非接觸式三維表面計量...
三維光學輪廓儀ContourX-500ContourX-500光學輪廓儀是全面的快速，非接觸式3D表面計量自動化臺式系統。該系統集成了布魯克專有的自動傾斜光學測...
三維光學輪廓儀ContourX-1000傾斜 / 俯仰光學頭、雙光源和先進的自動化功能可提供快速、靈活的生產車間內測量。 自校準激光和集成的防震臺可確保的測 量...
三維光學輪廓儀NPFLEX-1000落地式NPFLEX-1000白光干涉（WLI）測量系統為精密制造業帶來了的靈活性、測量能力和性能，從而理解和控制制造過程。該...
布魯克三維光學顯微鏡Contour Elite產品種類：非接觸式輪廓儀/粗糙度儀布魯克Contour Elite™三維光學顯微鏡在已經業界廣泛使用的...
掃描探針顯微鏡系統Dimension EdgeDimension® Edge™ 原子力顯微鏡采用， 其儀器性能、測試功能和操作性在同類產品...
掃描探針顯微系統Dimension IconDimension Icon 原子力顯微鏡(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表現，在聚合物、半導體、能源、數...
第八代多功能掃描探針顯微鏡BrukerMultiMode平臺是世界上應用泛的掃描探針顯微鏡（SPM），已經在全球成功安裝使用了近萬套。它的成功基于其的高分辨率和...
原子力顯微鏡Anasys afm+AFM+可以提供全面的原子力顯微功能，具有強大的分析能力，使得AFM不僅僅是一個普通的成像工具，還可以進行材料納米級尺度的成分...
布魯克掃描探針顯微鏡InnovaInnova掃描探針顯微鏡（SPM）具有高掃描分辨率、出色品質，可應用于物理、生命科學和材料科學等諸多領域。Innova具有很強...
生物型原子力顯微鏡 NanoWizard Sense+基于NanoWizard®系列產品雄厚的技術積累與長期的技術優勢，這是一款真正的多用途高效納米表...
高速AFM NanoRacer特征高速AFM的新篇章：以50幀和每秒5000行的速度實時分子動力學NanoRacer為生命科學應用開辟了一個充滿令人興奮的新可能...
超快速原子力顯微鏡 ULTRA Speed 2NanoWizard® ULTRA Speed 2 擁有最新一代Vortis™ 2控制器、頂...
生物型原子力顯微鏡NanoWizard 4 XP高分辨定量成像性能 高達150 Hz 的快速掃描 力學與電學測量的綜合解決方案 靈活、模塊化的系統與大量功能套件...
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