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光纖微裂紋檢測儀OLI其原理基于光學相干檢測技術，利用白光的低相干性可實現光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內的回波損耗，進而判斷此測量范圍內鏈路的性能。
該系統輕松查找并精準定位器件內部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。其事件點定位精度高達幾十微米，可探測到-80dB光學弱信號，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。
特點：
超高采樣分辨率和定位精度
超寬動態范圍
可定制引纖長度，便于匹配實際測量環境
可定制掃描測量長度
支持多通道測量升級
應用：
光纖微裂紋檢測
硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
FA光纖陣列鏈路性能檢
合點、連接點性能檢測
參數：
注：
1. 可選其它波段；
2.
可定制其他長度；
3.
引纖長度可定制。
武漢東隆科技有限公司 - 主營產品： OCT光柵,單光子PMT,激光光束品質分析儀,相干coher ...
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