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6433P光波元件分析儀

（調制頻率范圍覆蓋： 10MHz~110GHz）

一、6433P光波元件分析儀概述

6433P 光波元件分析儀是面向高速電光器件、光電器件及光光器件調制特性測試的儀器，頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，集成電電測試、電光測試、光電測試及光光測試4種測試模式，6433P 光波元件分析儀具有對數/線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標等多種顯示格式，能夠精確測量光電網絡的幅/相頻特性，主要應用于高速電光器件（電光強度調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（探測器、光發射組件、探測器芯片）及光光器件（光衰減器、EDFA）的帶寬、幅/相頻、群時延等頻響參數的測試。

二、6433P 光波元件分析儀產品特點

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋；

• 頻率分辨率1Hz；

• 測試功能豐富，具備傳輸、反射等多種參數測試功能；

• 一體化多功能測試界面；

• 向導式校準及一鍵式快速掃頻測試；

• 多窗口顯示及快速分析；

• 自動夾具移除，快速獲取探針數據；具有USB、LAN等接口和SCPI程控指令集，可實現自動測試

三、6433P 光波元件分析儀功能描述

• 10MHz~110GHz 寬頻帶同軸覆蓋

6433P 光波元件分析儀調制頻率高達110GHz，頻率分辨率為1Hz，可實現高速寬頻帶光器件及光芯片調制特性測試

• 一體化多功能測試向導界面

6433P 光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，可滿足光器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。一體化多功能界面方便用戶快速完成測量模式、光波參數、光路去嵌入參數、射頻去嵌入等參數的設置。

• 向導式校準及一鍵式測試

6433P 光波元件分析儀進行微波域的電電校準及光波域的光路校準時，采用向導式校準，方便用戶對儀器進行快速校準，獲得被測件準確的測試結果。同時采用一體化集成設計方案，利用核心算法，實現電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。

• 多窗口快速顯示及分析

6433P 光波元件分析儀支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口可同時顯示16條測試軌跡，可實現結果的多窗口、多格式顯示。

高分辨率多點觸控電容屏可快速實現各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數據，為用戶提供全新的光波元件分析儀操作體驗。

• 自動夾具移除，快速獲取探針數據

6433P 光波元件分析儀利用自動夾具移除功能可快速解決光芯片S參數測試難題。測試時，將高頻探針等效為夾具，通過自動夾具移除功能測量高頻探針的時域參數，利用信號流圖提取頻域參數，形成s2p文件，進而通過射頻去嵌入，實現光芯片的高精度S參數測試。

四、6433P 光波元件分析儀產品參數

五、6433P 光波元件分析儀典型應用

• 單端光器件測試

針對電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數和S21參數測試，利用光標功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數測試，可快速實現損耗、平坦度等指標的測量。

幅頻特性測試）

利用儀器提供的多種顯示模式,可實現相位、群時延等信息的顯示，可快速實現相頻特性等指標的測量。

（相頻特性測試）

• 平衡光器件測試

光波元件分析儀通過配置四端口機型，實現平衡光發射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

• 光芯片在片測試

6433P 光波元件分析儀搭配探針臺及高頻探針，可實現電光/光電芯片的頻響參數的測試。

• 自動化測試

6433P 光波元件分析儀提供標準的SCPI程控指令集，方便用戶進行遠程控制。通過網口，只需完成設備的互聯，發送命令即可實現一體化的自動測試方案，方便用戶將光波元件分析儀與溫控、數字源表及被測件等共同搭建光芯片測試系統。