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少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+) 參考價(jià):面議
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)