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| 測量范圍 | 0.01—199.9Ω·cmMΩ | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 指針式電阻測試儀 |
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復蓋較常用的區段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報警功能）
產品簡介
詳細介紹
產品簡介
1、SZ-KDY-1A便攜式電阻率測試儀符合半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法。
2、測量厚度大于4倍探針間距的硅晶體，也可測量薄硅片電阻率及方阻。
3、電阻率測量范圍復蓋最常用的區段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加電阻率小于0.5Ω·cm的報警功能）
方塊電阻測量范圍復蓋最常用的區段：0.1—1999Ω/□。（可添加方塊電阻小于5Ω/□的報警功能）
4、配置高精度恒流源，測量電流穩定，分兩檔：1mA、10mA，每檔均可在大范圍內調節（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、測量精度高：電器測量精度優于0.3%；
SZ-KDY-1A便攜式電阻率測試儀 整機測量誤差：測量1-100Ω·cm的標準硅片誤差≤±3%。
測量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的標準硅片誤差≤±5%。
6、重量輕，約2.5kg；體積小：240×210×100（mm）。
7、可配用多種探針間距的四探針頭：1.00mm、1.59mm。